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Série XT V da Nikon recebe pacote de melhorias em TC e raios X

Nikon reforça capacidades de inspeção eletrónica

19/01/2026

A Nikon Corporation anunciou um conjunto abrangente de melhorias para os seus sistemas de tomografia computadorizada (TC) e raios X da Série XT V, consolidando a plataforma como uma solução de referência mundial para a inspeção não destrutiva de componentes eletrónicos.

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Segundo a empresa, as atualizações permitem aos operadores obter imagens mais nítidas, examinar peças mais pesadas e proteger componentes sensíveis contra descargas eletrostáticas e radiação.

Atualizações de software e hardware

A atualização disponibiliza uma melhoria de software e cinco de hardware, permitindo que os clientes ajustem os sistemas às necessidades específicas das suas aplicações. 

A atualização de software inclui o Filtro High Contrast 2.0, que “oferece imagens nítidas e uniformes que garantem a visibilidade imediata de defeitos, para qualquer combinação de forma e densidade da amostra”.

Entre as melhorias de hardware destacam-se:

  • Bandeja de uso pesado: possibilita o escaneamento de peças maiores e mais pesadas, aumentando a capacidade de inspeção por lote.
  • Janela diamante: melhora o contraste da imagem em todo o intervalo operativo, especialmente em amostras de baixa densidade ou materiais mistos, permitindo scans mais rápidos e com menor ruído.
  • Colimador de dose baixa: protege componentes eletrónicos sensíveis, como semicondutores, reduzindo a exposição à radiação sem comprometer a inspeção de lotes grandes.
  • Atualização de segurança ESD: assegura a proteção de componentes delicados contra descargas eletrostáticas, seguindo os padrões IEC 6100-4-2, ANSI/ESD 520.20 e JEDEC JESD625, quando instalado em áreas ESD protegidas.
  • Braço de TC de grande aumento: permite a visualização de detalhes em amostras pequenas, oferecendo maior precisão na deteção de falhas.
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Aplicações e desempenho

A Série XT V continua a destacar-se na inspeção de placas de circuito impresso, chips, BGA e outros dispositivos semicondutores. Os sistemas mantêm as fontes de raios X de microfoco Xi, reconhecidas pelo mercado, e as suas capacidades avançadas de melhoria de imagem, agora complementadas pelas novas atualizações que acrescentam valor em ambientes de fabrico e controlo de qualidade de componentes eletrónicos e semicondutores. 

Para mais detalhes sobre a Série XT V melhorada, a Nikon disponibiliza informação adicional no seu site oficial.

Sobre a IDSBU da Nikon

A Unidade de Negócio de Soluções Industriais da Nikon (IDSBU) combina as operações de Soluções Digitais e Metrologia Industrial, oferecendo soluções completas que vão desde componentes ópticos de alta precisão até sistemas de medição e inspeção avançados. A unidade recorre a mais de um século de experiência em tecnologia de precisão e óptica aplicada, disponibilizando soluções inovadoras a nível global.

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